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Langue
IEC 62435-2 Ed. 1.0
Edition
01/2017
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration
- € 82.8 / exemplaire
Résumé
L’IEC 62435-2:2017 a trait aux mécanismes de détérioration et traite de la façon dont les composants se dégradent dans le temps en fonction des conditions de stockage appliquées. La présente partie contient aussi des préconisations sur les méthodes d’essai qui peuvent être utilisées pour évaluer les mécanismes de détérioration génériques. Elle s’utilise habituellement conjointement avec l’<a href="https://webstore.iec.ch/publication/31455">IEC 62435-1:2017</a> pour tout stockage de dispositifs dont la durée peut être supérieure à 12 mois, pour un produit destiné à être stocké pendant une durée prolongée.<br />
<br />
Statut
| Standard - Actif |
Origine
| Comité technique : |
| 47 : Semiconductor devices |
Mise en application
| début du vote sur le projet | date de ratification (dor) | |||||
| fin du vote sur le projet | date d'annonce (doa) | |||||
| début du vote sur le projet final | date de publication (dop) | |||||
| fin du vote sur le projet final | date de retrait (dow) |
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Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg |
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| Référence |
Classification internationale pour les normes (codes ICS) :
| 31.020 : Electronic components in general |
