Publication
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
IEC 60749-4 Ed. 2.0
Edition
03/2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
A l'heure actuelle pas de version électronique de cette norme en ligne pour l'édition linguistique: FR.
N'hésitez pas à contacter normalisation@ilnas.etat.lu
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
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- € 31.5 / exemplaire
Résumé
IEC 60749-4:2017(E) provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:<br />
a) clarification of requirements for temperature, relative humidity and duration detailed in Table 1;<br />
b) recommendations that current limiting resistor(s) be placed in the test set-up to prevent test board or DUT damage;<br />
c) allowance of additional time-to-test delay or return-to-stress delay.<br />
Statut
| Standard - Actif |
Origine
| Comité technique : |
| 47 : Semiconductor devices |
Mise en application
| début du vote sur le projet | date de ratification (dor) | |||||
| fin du vote sur le projet | date d'annonce (doa) | |||||
| début du vote sur le projet final | date de publication (dop) | |||||
| fin du vote sur le projet final | date de retrait (dow) |
|
Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg |
|
| Référence |
Classification internationale pour les normes (codes ICS) :
| 31.080.01 : Semiconductor devices in general |
