Publication
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
IEC 60749-9 Ed. 2.0
Edition
03/2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
A l'heure actuelle pas de version électronique de cette norme en ligne pour l'édition linguistique: FR.
N'hésitez pas à contacter normalisation@ilnas.etat.lu
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
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- € 31.5 / exemplaire
Résumé
IEC 60749-9:2017(E) is to determine whether the marks on solid state semiconductor devices will remain legible when subjected to the application and removal of labels or the use of solvents and cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board manufacturing process.<br />
This test is applicable for all package types. It is suitable for use in qualification and/or process monitor testing. The test is considered non-destructive. Electrical or mechanical rejects can be used for the purpose of this test.<br />
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:<br />
a) revision to Clause 4 Equipment by a complete rewriting of Clause 3 Terms and definitions;<br />
b) additional variant – ‘adhesive tape pull test’.<br />
Statut
| Standard - Actif |
Origine
| Comité technique : |
| 47 : Semiconductor devices |
Mise en application
| début du vote sur le projet | date de ratification (dor) | |||||
| fin du vote sur le projet | date d'annonce (doa) | |||||
| début du vote sur le projet final | date de publication (dop) | |||||
| fin du vote sur le projet final | date de retrait (dow) |
|
Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg |
|
| Référence |
Classification internationale pour les normes (codes ICS) :
| 31.080.01 : Semiconductor devices in general |
