Résumé
L'IEC 62433-6:2020 a pour objet de décrire la méthode d'extraction d’un macromodèle d'immunité d'un circuit intégré aux décharges électrostatiques (DES) conduites selon l'IEC 61000-4-2 et aux transitoires électriques rapides (TER) selon l'IEC 61000‑4‑4.
Le modèle couvre les dommages physiques dus à la surtension, les dommages thermiques et d’autres modes de défaillance. Les défaillances fonctionnelles peuvent également être traitées par ce modèle. Ce modèle permet de simuler l'immunité du circuit intégré dans une application. Ce modèle est communément appelé "modèle d'immunité des circuits intégrés – immunité aux impulsions conduites" (ICIM-CPI – integrated circuit immunity model conducted pulse immunity).
Le présent document fournit:
- la description des éléments de macromodèle ICIM-CPI représentant le comportement électrique, thermique ou logique du circuit intégré;
- un format universel d'échange de données fondé sur le langage XML.
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