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IEC 62899-503-3 Ed.1.0 Edition 08/2021
Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
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  • 70.6 / Kopie
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Abstract

IEC 62899-503-3:2021(E) specifies a measuring method of contact resistance for printed thin film transistors (TFTs) by the transfer length method (TLM). The method requires the fabrication of a test element group (TEG) with varying channel length (L) between source and drain electrodes. The method is intended for quality assessment of TFT electrode contacts and is suited for determining whether the contact resistance lies within a desired range.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
119 : Printed electronics

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

29.045 : Semiconducting materials
31.080.30 : Transistors

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