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IEC 62899-503-3 Ed.1.0 Edition 08/2021
Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
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  • 70.6 / exemplaire
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Résumé

IEC 62899-503-3:2021(E) specifies a measuring method of contact resistance for printed thin film transistors (TFTs) by the transfer length method (TLM). The method requires the fabrication of a test element group (TEG) with varying channel length (L) between source and drain electrodes. The method is intended for quality assessment of TFT electrode contacts and is suited for determining whether the contact resistance lies within a desired range.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
119 : Printed electronics

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

29.045 : Semiconducting materials
31.080.30 : Transistors

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