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ILNAS-EN 15042-2:2006 Edition 04/2006
Schichtdickenmessung und Charakterisierung von Oberflächen mittels Oberflächenwellen - Teil 2: Leitfaden zur photothermischen Schichtdickenmessung
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Abstract

Dieses Dokument legt ein Messverfahren fest, das eine Werkstoffprüfung mittels Wärmewellen erlaubt, die durch eine Strahlungsquelle erzeugt werden. Das Messverfahren kann bei Beschichtungen angewendet werden, deren thermische Eigenschaften (z. B. Wärmeleitfähigkeit) sich von denen des Substrates unterscheiden, in einem Messbereich von einigen µm bis einige hundert µm.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
CEN/TC 262 : Metallische und andere anorganische Überzüge

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf    02/09/2004   Datum der Ratifizierung (dor)    02/03/2006
Ende der Abstimmung über den Entwurf    02/02/2005   Datum der Ankündigung (doa)    31/07/2006
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf    01/12/2005   Datum der Veröffentlichung (dop)    31/10/2006
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf    01/02/2006   Datum der Zurückziehung (dow)    31/10/2006


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
27/07/2006
Referenz

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

17.040.20 : Properties of surfaces

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