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ILNAS-EN ISO 18452:2016 Edition 04/2016
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005)
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  • 21.2 / Kopie
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Abstract

Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Beschichtungen mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet. ANMERKUNG Das Verfahren erfordert eine ausgeprägte und deutlich geformte Grenze zwischen beschichtetem und unbeschichtetem Bereich des Grundwerkstoffes (Substrat).

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
CEN/TC 184 : Hochleistungskeramik

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)    25/03/2016
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)    31/07/2016
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf    24/09/2015   Datum der Veröffentlichung (dop)    31/10/2016
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf    24/02/2016   Datum der Zurückziehung (dow)    31/10/2016


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
20/05/2016
Referenz Mémorial A N° 92

Relations

Relations to older standards
ILNAS-EN 1071-1:2003

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

81.060.30 : Advanced ceramics

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