IEC 61788-4:2020 est disponible sous forme de
IEC 61788-4:2020 RLV qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente.IEC 61788-4:2020 spécifie une méthode d'essai pour la détermination du rapport de résistance résiduelle (RRR) des composites supraconducteurs de Nb-Ti et de Nb3Sn avec une matrice de Cu, Cu-Ni, Cu/Cu-Ni et Al dans une condition sans contrainte et dans un champ magnétique externe nul. Cette méthode est destinée à être utilisée avec des éprouvettes de supraconducteurs présentant une structure monolithique avec une section rectangulaire ou circulaire, un RRR de valeur inférieure à 350 et une surface de section inférieure à 3 mm2. Dans le cas de Nb3Sn, les éprouvettes ont subi un traitement thermique de réaction. Cette cinquième édition annule et remplace la quatrième édition parue en 2016. Cette édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) modification de la distance adéquate des prises de tension sur les éprouvettes pour un mesurage fiable,
b) nouveau rapport du résultat de l’essai interlaboratoire du rapport de résistance résiduelle des supraconducteurs Nb3Sn qui atteste de la validité de la méthode de mesure utilisée dans la présente norme,
c) révision des définitions prêtant à confusion concernant le rapport entre le cuivre et la fraction de cuivre.
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