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IEC 60749-43 Ed. 1.0 Edition 06/2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
  •   
  •  
  • 236.5 / Kopie
  •  
 

Abstract

IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 63287-1 Ed.1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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