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IEC 60749-12 Ed.2.0 Edition 12/2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
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  • 18.2 / Kopie
  •  
 

Abstract

IEC 60749-12:2017 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages
This second edition cancels and replaces the first edition published in 2002. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) alignment with MIL-STD-883J Method 2007, Vibration, variable frequency.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Relations to older standards
IEC 60749-12 fC1 Ed. 1.0
IEC 60749-12 Ed. 1.0
IEC 60749-12 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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