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IEC 60749-12 Ed.2.0 Edition 12/2017
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables
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  • 18.2 / exemplaire
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Résumé

l'IEC 60749-12:2017 décrit lessai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer leffet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il sagit dun essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2002. La présente édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) alignement sur le document MIL-STD-883J Méthode 2007, Vibrations, fréquences variables.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Relations avec d'anciennes normes
IEC 60749-12 fC1 Ed. 1.0
IEC 60749-12 Ed. 1.0
IEC 60749-12 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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