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IEC 62541-8 Ed.3.0 Edition 06/2020
Architecture unifiée OPC - Partie 8: Accès aux données
  •   
  •  
  • 304.6 / exemplaire
  •  
 

Résumé

L'IEC 62541-8:2020 fait partie intégrante de la série de normes générales sur l'architecture unifiée OPC (OPC UA). Elle définit le modèle d'information associé à l'Accès aux données (DA). Elle spécifie notamment des VariableTypes supplémentaires et fournit des descriptions complémentaires concernant les NodeClasses et attributs nécessaires pour l'Accès aux données, ainsi que des propriétés supplémentaires et d'autres paramètres relatifs aux informations et au comportement.
Le modèle d'espace d'adresses complet, comprenant toutes les NodeClasses et tous les Attributs, est spécifié dans l'IEC 62541-3. Les services de détection et d'accès aux données sont spécifiés dans l'IEC 62541-4.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2015. Cette édition constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) ajout de nouveaux VariableTypes pour les AnalogItems;
b) ajout d'une annexe qui spécifie le mapping recommandé entre OPC UA DataAccess et OPC COM DataAccess;
c) modification de la description ambiguë de "Bad_NotConnected";
d) mise à jour de la description de EUInformation pour renvoyer à la dernière révision des unités CEFACT-ONU.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
65E : Devices and integration in enterprise systems

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations avec d'anciennes normes
IEC 62541-8 Ed. 2.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

25.040.40 : Industrial process measurement and control
35.100.05 : Multilayer applications

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