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IEC 60747-17 Ed.1.0 Edition 09/2020
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : Coupleur magnétique et capacitif pour l’isolation principale et renforcée
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  • 304.6 / exemplaire
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Résumé

L'IEC 60747-17:2020 spécifie la terminologie, les valeurs assignées essentielles, les caractéristiques, l’essai de sécurité et les méthodes de mesure des coupleurs magnétiques et des coupleurs capacitifs.
Elle spécifie les principes et exigences de l’isolation et les caractéristiques d’isolement des coupleurs magnétiques et capacitifs pour l’isolation principale et l’isolation renforcée.
Cette première édition annule et remplace l’IEC PAS 60747-17:2011. Cette édition constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’IEC PAS 60747‑17:2011:
a) introduction des facteurs de sécurité de durée de vie pour la prise en considération de la durée de vie améliorée, conformément aux mécanismes de vieillissement du dioxyde de silicium (TDDB) largement reconnus, et couches d’isolement en polymère à couches minces;
b) prise en considération de l’alinéa et de la durée de vie statistique de l’"essai de fin de vie" considérablement améliorée par l’ajout d’une description détaillée du processus, des facteurs de sécurité, des méthodes de génération de points de données et des interpolations de la durée de vie respective, ainsi que par la spécification de la quantité minimale d'échantillons exigés;
c) introduction du concept de certification par similarité, comprenant l’Annexe A, qui donne des recommandations relatives aux considérations de qualification et au processus de certification exigé;
d) forme d'impulsion alternative admise pour l’essai d’impulsion de choc afin d'éviter les problèmes de disponibilité de l’appareil d’essai aux ondes de choc;
e) plusieurs améliorations tout au long de la norme: amélioration des définitions, par exemple des types de coupleurs; introduction de la valeur assignée de l’impulsion de choc VIMP, utilisation d’une température de transition vitreuse, redéfinition du préconditionnement pour une utilisation améliorée et une meilleure compatibilité avec la conception et les fonctionnalités actuelles des coupleurs, les composants moulés disponibles, etc.
Le contenu du corrigendum de janvier 2021 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47E : Discrete semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Relations avec d'anciennes normes
IEC/PAS 60747-17 Ed. 1.0
IEC/PAS 60747-17 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.99 : Other semiconductor devices

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