Résumé
L’IEC 63287-1:2021 fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des produits de CI à semiconducteurs. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.
NOTE 1 Le fabricant peut utiliser des tailles d’échantillons flexibles afin de réduire les coûts tout en maintenant une fiabilité raisonnable par l’adaptation des présentes lignes directrices fondées sur l’EDR-4708. S’ils sont spécifiés, les documents AEC Q100, JESD47 ou tout autre document pertinent spécifié peuvent également être applicables.
NOTE 2 La méthode de la loi de Weibull utilisée dans le présent document n’est qu’une méthode parmi d’autres permettant de calculer la taille d’échantillon et les conditions d’essai appropriées pour un projet de fiabilité donné.
Cette première édition de l’IEC 63287-1 annule et remplace la première édition de l’IEC 60749‑43 parue en 2017. Cette édition constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
le document a été renommé et renuméroté afin de le différencier de l’IEC 60749 (toutes les parties);
une nouvelle section portant sur le concept de famille a été ajoutée avec une renumérotation appropriée du texte existant.
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