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IEC 61967-8 Ed.2.0 Edition 05/2023
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré
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  • 104.6 / exemplaire
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Résumé

L’IEC 61967-8:2023 définit une méthode de mesure des émissions électromagnétiques rayonnées d’un circuit intégré (CI) à l’aide d’une ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré. Le CI à évaluer est monté sur une carte d’essai CEM (carte à circuit imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse du dispositif de la stripline pour CI. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) la plage de fréquences de 150 kHz à 3 GHz a été retirée du domaine d’application;
b) la fréquence utile supérieure est étendue à 6 GHz ou plus dans la mesure où les exigences définies sont remplies.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47A : Integrated circuits

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Relations avec d'anciennes normes
IEC 61967-8 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

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