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IEC 62276 Ed. 1.0 Edition 05/2005
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
  •   
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  • 236.5 / Kopie
  •  
 

Abstract

Provides specifications for manufacturing piezoelectric single crystal wafers to be used in surface acoustic wave devices. Applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate, and lanthanum gallium silicate single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave filters and resonators.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
49 : Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations to older standards
IEC/PAS 62276 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.140 : Piezoelectric devices

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