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IEC 60747-5-3 Ed. 1.1 Edition 11/2009
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
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  • 468.4 / Kopie
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Abstract

IEC 60747-5-3:1997+A1:2002 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems. This consolidated version consists of the first edition (1997) and its amendment 1 (2002). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

This publication is to be read in conjunction with IEC 60747-1:2006, IEC 62007-1:2008 and IEC 62007-2:2009.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47E : Discrete semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60747-5-4 Ed. 1.0
IEC 60747-5-7 Ed. 1.0
IEC 60747-5-6 Ed. 1.0
IEC 60947-2 Ed. 4.2
IEC 60947-2 Ed. 4.2
IEC 60947-2 Ed. 4.2

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.99 : Other semiconductor devices

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