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IEC 60749-7 Ed. 1.0 Edition 04/2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
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  • 18.2 / Kopie
  •  
 

Abstract

Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations to older standards
IEC 60749 am1 Ed. 2.0
IEC 60749 Ed. 2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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