Résumé
Couvre l'essai I et les essais de verrouillage de surtension des circuits intégrés.
L'objet de cet essai est d'établir une méthode pour déterminer les caractéristiques de verrouillage des circuits intégrés et définir les critères de défaillance de verrouillage. Les caractéristiques de verrouillage sont utilisées dans la détermination de la fiabilité de produit et la minimisation des défaillances en rapport avec «l'absence d'observation de problèmes» et la «contrainte électrique excessive» du fait du verrouillage.