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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC 60749-29 Ed. 1.0 Edition 11/2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage
  •   
  •  
  • 145.5 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Couvre l'essai I et les essais de verrouillage de surtension des circuits intégrés. L'objet de cet essai est d'établir une méthode pour déterminer les caractéristiques de verrouillage des circuits intégrés et définir les critères de défaillance de verrouillage. Les caractéristiques de verrouillage sont utilisées dans la détermination de la fiabilité de produit et la minimisation des défaillances en rapport avec «l'absence d'observation de problèmes» et la «contrainte électrique excessive» du fait du verrouillage.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations avec d'anciennes normes
IEC/PAS 62181 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080 : Semiconductor devices

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