Résumé
Etablit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques sur un modèle de corps humain. Le but de cette norme est de fournir des résultats d'essai fiables et reproductibles de manière que des classifications précises puissent être réalisées.
Les essais doivent être choisis entre cette méthode d'essai ou celle du modèle de machine (voir CEI 60749-27).
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