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IEC/TR 61967-1-1 Ed. 1.0 Edition 05/2010
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1-1: General conditions and definitions - Near-field scan data exchange format
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  • 304.6 / Kopie
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Abstract

IEC/TR 61967-1-1:2010 provides guidance for exchanging data generated by near-field scan measurements. The described exchange format could also be used for near-field scan data generated by simulation software. It should be noted that, although it has been developed for near-field scan, its use is not restricted to this application. The exchange format can be applied to emission, immunity and impulse immunity near-field scan data in the frequency and time domains. The scope of this technical report includes neither the methods used for the measurements or simulations, nor the software and algorithms used for generating the exchange file or for processing or viewing the data contained therein.
This publication contains colours which are considered to be useful for the correct understanding of its contents.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47A : Integrated circuits

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC/TR 61967-1-1 Ed. 2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

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