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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC 62132-8 Ed. 1.0 Edition 07/2012
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
  •   
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  • 145.5 / exemplaire
  •  
 

Résumé

La CEI 62132-8:2012 définit une méthode de mesure de l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques sur la gamme de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 62132-1:2006.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47A : Integrated circuits

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

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