magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer
Login

Login

ANGEMELDET ALS

Hilfe

Kundenumfrage

Newsletter

Kostenfreie weiterbildung "Normung"

KOSTENFREIE WEITERBILDUNG "NORMUNG"

Normung

Normen-Entwürfe

Normungsorganisationen

NORMUNGSORGANISATIONEN

  • Nationale Normen

  • Europäische Normen

  • Internationale Normen


Veröffentlichung

 
Kostenlose Vorschau
Gesamtbetrag
Sprache
 
IEC/TS 62228 Ed. 1.0 Edition 02/2007
Integrated circuits - EMC evaluation of CAN transceivers
  •   
  •  
  • 268.3 / Kopie
  •  
 

Abstract

Specifies test and measurement methods, test conditions, test setups, test procedures, failure criteria and test signals for the EMC evaluation of CAN transceivers concerning: - immunity against RF common mode disturbances on the signal lines - emissions caused by non-symmetrical signals regarding the time and frequency domain - immunity against transients (function and damage) - immunity against electrostatic discharges - ESD (damage)

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47A : Integrated circuits

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 62228-3 Ed.1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer


Achtung:
DIN-Normen können nur einmal heruntergeladen werden! Nach dem Herunterladen, sind sie nicht mehr in der eBibliothek verfügbar.
Download starten?