magnifying icon Panier

Votre panier est vide
Login

Login

CONNECTÉ EN TANT QUE

Aide

Enquête de satisfaction

ENQUÊTE DE SATISFACTION

Newsletter

Offre de formation continue gratuite "Normalisation"

OFFRE DE FORMATION CONTINUE GRATUITE "NORMALISATION"

Normalisation

Projets de norme en enquête publique

PROJETS DE NORME EN ENQUÊTE PUBLIQUE

Organismes de normalisation

ORGANISMES DE NORMALISATION

  • Normes nationales

  • Normes européennes

  • Normes internationales


Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC/PAS 62186 Ed. 1.0 Edition 08/2000
Mechanical shock test method
  •  
  • 9.1 / exemplaire
  •  
 

Résumé

This test is intended to determine the suitability of component parts for use in electronic equipment which may be subjected to moderately severe shocks as a result of suddenly applied forces or abrupt changes in motion produced by rough handling, transportation, or field operation. It is normally applicable to cavity-type packages.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60749-10 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

magnifying icon Panier

Votre panier est vide


Attention:
Les normes DIN ne peuvent être téléchargées qu’une seule fois! Après le téléchargement, elles ne seront plus disponibles dans l’eBibliothèque.
Continuer avec le téléchargement?