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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC/PAS 62483 Ed. 1.0 Edition 09/2006
Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes
  •  
  • 191 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Provides the methodology applicable for studying tin whisker growth from finishes containing a predominance of tin (Sn). This test method may not be sufficient for applications with special requirements, e.g., military or aerospace. Additional requirements may be specified in the appropriate requirements document

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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