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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC/PAS 62050 Ed. 1.0 Edition 11/2004
  •  
  • 104.6 / exemplaire
  •  
 

Résumé

The Board Level Drop Test Method is intended to evaluate and compare drop performance of surface mount electronic components for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure. The purpose is to standardize the test board and test methodology to provide a reproducible assessment of the drop test performance of surface mounted components while duplicating the failure modes normally observed during product level test. The purpose of this document is to prescribe a standardized test method and reporting procedure.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60749-37 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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