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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
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Langue
 
IEC/PAS 62162 Ed. 1.0 Edition 08/2000
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
  •  
  • 18.2 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Describes a uniform method for establishing charged-device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) withstand thresholds. All packages semiconductor components, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) components, opto-electronic components, hybrid integrated circuits (HICS), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these components are to be evaluated according to this standard. IEC/PAS 62162 will be re-issued in the form of IEC international standard under reference IEC 60748-20.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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