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ILNAS-EN IEC 61967-1:2019 Edition 02/2019
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen
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Abstract

This part of IEC 61967 provides general information and definitions on the measurement of conducted and radiated electromagnetic disturbances from integrated circuits. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up as well as the test procedures and content of the test reports. Test method comparison tables are included in Annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s). The object of this document is to describe general conditions in order to establish a uniform testing environment and to obtain a quantitative measure of RF disturbances from integrated circuits (IC). Critical parameters that are expected to influence the test results are described. Deviations from this document are noted explicitly in the individual test report. The measurement results can be used for comparison or other purposes. Measurement of the voltage and current of conducted RF emissions or radiated RF disturbances, coming from an integrated circuit under controlled conditions, yields information about the potential for RF disturbances in an application of the integrated circuit. The applicable frequency range is described in each part of IEC 61967.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
CLC/SR 47A : Integrierte Schaltkreise

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf    05/01/2018   Datum der Ratifizierung (dor)    16/01/2019
Ende der Abstimmung über den Entwurf    23/03/2018   Datum der Ankündigung (doa)    16/04/2019
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf    14/09/2018   Datum der Veröffentlichung (dop)    16/10/2019
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf    26/10/2018   Datum der Zurückziehung (dow)    16/01/2022


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
21/03/2019
Referenz Mémorial A N° 170

Relations

Relations to older standards
ILNAS-EN 61967-1:2002

Entspricht der/den internationalen Norm(en)
IEC 61967-1:201X 
IEC 61967-1:2018 

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

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