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IEC 60749-13 Ed. 1.0 Edition 04/2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
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  • 17.7 / Kopie
  •  
 

Abstract

Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60947-2 Ed. 4.2
IEC 60947-2 Ed. 4.2

Relations to older standards
IEC 60749 Ed. 2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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