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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
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Langue
 
IEC 60749-13 Ed. 1.0 Edition 04/2002
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline
  •   
  •  
  • 17.7 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60947-2 Ed. 4.2
IEC 60947-2 Ed. 4.2

Relations avec d'anciennes normes
IEC 60749 Ed. 2.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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