magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer
Login

Login

ANGEMELDET ALS

Hilfe

Kundenumfrage

Newsletter

Kostenfreie weiterbildung "Normung"

KOSTENFREIE WEITERBILDUNG "NORMUNG"

Normung

Normen-Entwürfe

Normungsorganisationen

NORMUNGSORGANISATIONEN

  • Nationale Normen

  • Europäische Normen

  • Internationale Normen


Veröffentlichung

 
Kostenlose Vorschau
Gesamtbetrag
Sprache
 
IEC 60749-20 Ed.3.0 Edition 08/2020
  •   
  •  
  • 191 / Kopie
  •  
 

Abstract

IEC 60749-20:2020 provides a means of assessing the resistance to soldering heat of semiconductors packaged as plastic encapsulated surface mount devices (SMDs). This test is destructive. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
- incorporation of a technical corrigendum to IEC 60749-20:2008 (second edition );
- inclusion of new Clause 3;
- inclusion of explanatory notes.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Relations to older standards
IEC 60749-20 Ed. 2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer


Achtung:
DIN-Normen können nur einmal heruntergeladen werden! Nach dem Herunterladen, sind sie nicht mehr in der eBibliothek verfügbar.
Download starten?