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IEC 60749-17 Ed. 1.0 Edition 02/2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
  •   
  •  
  • 18.2 / Kopie
  •  
 

Abstract

Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60749-17 Ed.2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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