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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC 60749-17 Ed. 1.0 Edition 02/2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons
  •   
  •  
  • 18.2 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Utilisé pour déterminer la sensibilité à la dégradation des dispositifs à semiconducteurs placés dans un environnement de neutrons. Applicable aux circuits intégrés et aux dispositifs à semiconducteurs.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60749-17 Ed.2.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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