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IEC 60747-9 Ed. 2.0 Edition 09/2007
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
  •   
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  • 304.6 / Kopie
  •  
 

Abstract

This part of IEC 60747 gives product specific standards for terminology, letter symbols, essential ratings and characteristics, verification of ratings and methods of measurement for insulated-gate bipolar transistors (IGBTs). The major changes with respect to the previous edition are mainly of an editorial nature.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47E : Discrete semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60747-9 Ed.3.0

Relations to older standards
IEC 60747-9 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general
31.080.30 : Transistors

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