magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer
Login

Login

ANGEMELDET ALS

Hilfe

Kundenumfrage

Newsletter

Kostenfreie weiterbildung "Normung"

KOSTENFREIE WEITERBILDUNG "NORMUNG"

Normung

Normen-Entwürfe

Normungsorganisationen

NORMUNGSORGANISATIONEN

  • Nationale Normen

  • Europäische Normen

  • Internationale Normen


Veröffentlichung

 
Kostenlose Vorschau
Gesamtbetrag
Sprache
 
IEC 60749-34 Ed. 1.0 Edition 03/2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
  •   
  •   
  •  
  • 36.4 / Kopie
  •  
 

Abstract

Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temperature. The power cycling test is complementary to high temperature operating life.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations to older standards
IEC/PAS 62206 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080 : Semiconductor devices

magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer


Achtung:
DIN-Normen können nur einmal heruntergeladen werden! Nach dem Herunterladen, sind sie nicht mehr in der eBibliothek verfügbar.
Download starten?