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Publication

 
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IEC 61967-8 Ed. 1.0 Edition 08/2011
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
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  • 104.6 / exemplaire
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Résumé

La CEI 61967-8:2011 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61967-1:2002.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47A : Integrated circuits

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 61967-8 Ed.2.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.200 : Integrated circuits. Microelectronics

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