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Veröffentlichung

 
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IEC/PAS 62180 Ed. 1.0 Edition 08/2000
Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM)
  •  
  • 72.8 / Kopie
  •  
 

Abstract

Establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60749-27 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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