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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC/PAS 62180 Ed. 1.0 Edition 08/2000
Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM)
  •  
  • 72.8 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60749-27 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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