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IEC/PAS 62206 Ed. 1.0 Edition 11/2000
Power and temperature cycling
  •  
  • 18.2 / Kopie
  •  
 

Abstract

Aims at determining the ability of a device to withstand alternate exposures at high and low temperature extremes with operating biases periodically applied and removed. It is intended to simulate worst case conditions encountered in typical applications and considered destructive.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60749-34 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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