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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC/PAS 62206 Ed. 1.0 Edition 11/2000
Power and temperature cycling
  •  
  • 18.2 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Aims at determining the ability of a device to withstand alternate exposures at high and low temperature extremes with operating biases periodically applied and removed. It is intended to simulate worst case conditions encountered in typical applications and considered destructive.

Statut

Standard - Remplacé

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60749-34 Ed. 1.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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