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IEC/PAS 62276 Ed. 1.0 Edition 08/2001
Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device - Specification and measuring method
  •  
  • 236.5 / Kopie
  •  
 

Abstract

Applies to single crystal wafers intended for manufacturing substrates made of synthetic quartz crystal, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate crystals for surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. Lays down specifications and measuring methods.

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
49 : Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 62276 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.140 : Piezoelectric devices

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