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ILNAS-EN 60749-5:2017 Edition 07/2017
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
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  • 19.2 / Kopie
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Abstract

IEC 60749-5:2017(E) provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. This second edition cancels and replaces the first edition published in 2003. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a)   correction of an error in an equation; b)   inclusion of notes for guidance; c)   clarification of the applicability of test conditions.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
CLC/SR 47 : Halbleiterbauelemente

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf    02/09/2016   Datum der Ratifizierung (dor)    15/05/2017
Ende der Abstimmung über den Entwurf    25/11/2016   Datum der Ankündigung (doa)    15/08/2017
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf    03/02/2017   Datum der Veröffentlichung (dop)    15/02/2018
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf    17/03/2017   Datum der Zurückziehung (dow)    15/05/2020


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
01/02/2018
Referenz Mémorial A N° 106

Relations

Evolutions
ILNAS-EN IEC 60749-5:2024

Relations to older standards
ILNAS-EN 60749-5:2003

Entspricht der/den internationalen Norm(en)
IEC 60749-5:201X (47/2367/FDIS) (EQV) 
IEC 60749-5:201X (47/2311/CDV) (EQV) 
IEC 60749-5:2017 (EQV) 

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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