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ILNAS-EN 60749-5:2017 Edition 07/2017
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
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Résumé

L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) correction d’une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
CLC/SR 47 : Dispositifs à semiconducteurs

Mise en application

début du vote sur le projet    02/09/2016   date de ratification (dor)    15/05/2017
fin du vote sur le projet    25/11/2016   date d'annonce (doa)    15/08/2017
début du vote sur le projet final    03/02/2017   date de publication (dop)    15/02/2018
fin du vote sur le projet final    17/03/2017   date de retrait (dow)    15/05/2020


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg 		01/02/2018
Référence Mémorial A N° 106

Relations

Evolutions
ILNAS-EN IEC 60749-5:2024

Relations avec d'anciennes normes
ILNAS-EN 60749-5:2003

Relations avec norme(s) internationale(s)
IEC 60749-5:201X (47/2367/FDIS) (EQV) 
IEC 60749-5:201X (47/2311/CDV) (EQV) 
IEC 60749-5:2017 (EQV) 

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general
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