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IEC 60749-12 Ed. 1.0 Edition 04/2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
  •   
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  • 9.1 / Kopie
  •  
 

Abstract

Describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Status

Standard - Aktiv

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60749-12 Ed.2.0
IEC 60749-12 Ed.2.0

Relations to older standards
IEC 60749 am1 Ed. 2.0
IEC/PAS 62187 Ed. 1.0
IEC 60749 Ed. 2.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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