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Publication

 
Aperçu partiel gratuit
Prix
Langue
 
IEC 60749-12 Ed. 1.0 Edition 04/2002
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables
  •   
  •  
  • 9.1 / exemplaire
  •  
 

Résumé

Décrit l'essai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer l'effet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il s'agit d'un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Statut

Standard - Actif

Origine

Comité technique :
47 : Semiconductor devices

Mise en application

début du vote sur le projet      date de ratification (dor)   
fin du vote sur le projet      date d'annonce (doa)   
début du vote sur le projet final      date de publication (dop)   
fin du vote sur le projet final      date de retrait (dow)   


Publication au Journal officiel
du Grand-Duché de Luxembourg
Référence

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV
IEC 60749-12 Ed.2.0
IEC 60749-12 Ed.2.0

Relations avec d'anciennes normes
IEC 60749 am1 Ed. 2.0
IEC/PAS 62187 Ed. 1.0
IEC 60749 Ed. 2.0

Classification internationale pour les normes (codes ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

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