magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer
Login

Login

ANGEMELDET ALS

Hilfe

Kundenumfrage

Newsletter

Kostenfreie weiterbildung "Normung"

KOSTENFREIE WEITERBILDUNG "NORMUNG"

Normung

Normen-Entwürfe

Normungsorganisationen

NORMUNGSORGANISATIONEN

  • Nationale Normen

  • Europäische Normen

  • Internationale Normen


Veröffentlichung

 
Kostenlose Vorschau
Gesamtbetrag
Sprache
 
IEC 60749-27 Ed. 1.0 Edition 10/2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
  •   
  •  
  • 72.8 / Kopie
  •  
 

Abstract

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model electrostatic discharge. The objective is to provide reliable, repeatable test results so that accurate classifications can be performed. The testing shall be selected from this test method or the human body model (see IEC 60749-26).

Status

Standard - Ersetzt

Ursprung

Technisches Komitee :
47 : Semiconductor devices

Annahme

Beginn der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ratifizierung (dor)   
Ende der Abstimmung über den Entwurf      Datum der Ankündigung (doa)   
Beginn der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Veröffentlichung (dop)   
Ende der Abstimmung über den Schlussentwurf      Datum der Zurückziehung (dow)   


Veröffentlichung im Amtsblatt
des Grossherzogtum Luxemburg
Referenz

Relations

Evolutions
IEC 60951-3 Ed.3.0 RLV

Relations to older standards
IEC/PAS 62180 Ed. 1.0

Internationale Normungsklassifizierung (ICS) :

31.080.01 : Semiconductor devices in general

magnifying icon Warenkorb

Der Warenkorb ist leer


Achtung:
DIN-Normen können nur einmal heruntergeladen werden! Nach dem Herunterladen, sind sie nicht mehr in der eBibliothek verfügbar.
Download starten?