Résumé
Etablit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique sur un modèle de machine défini. Le but de cette norme est de fournir des résultats d'essai fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées.
L'essai doit être choisi entre la présente méthode d'essai et celle du modèle du corps humain (voir CEI 60749-26).
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